Атомно-абсорбционные спектрометры высокого разрешения с
источником непрерывного спектра серии contrAA®
2004 год - выпуск первого коммерческого спектрометра с источником непрерывного спектра contrAA® 300 производства Аналитик Йена АГ
Серия уникальных инновационных атомно-абсорбционных спектрометров с источником сплошного спектра и двойным Эшелле-монохроматором высокого разрешения.
Выпуск коммерческих атомно-абсорционных спектрометров нового типа ознаменовал революционный прорыв в области атомной абсорбции, поскольку впервые удалось воплотить заветную мечту аналитиков всего мира: заменить огромное количество ламп с полым катодом на один-единственный источник света, тем самым сделав этот широко используемый селективный высокочувствительный метод анализа ещё более привлекательным.
Принципиальная схема АА спектрометров cерии contrAA практически не отличается от той, что используется в традиционных АА спектрометрах с ЛПК. Однако внедрение
нового типа устройств в качестве основных узлов привело к созданию нового типа спектрометров, отличающихся от своих предшественников техническими характеристиками и функциональными возможностями.
Отличительные особенности нового типа спектрометров
Дуговая ксеноновая лампа → непрерывный спектр в
диапазоне длин волн 190-900 нм;
Эшелле-монохроматор высокого разрешения по схеме
Литтрова → вырезает из сплошного спектра узкую часть
на характеристичной для определяемого элемента длине
волны;
CCD-детектор → состоит из 512 пикселей, дисперсия 2
пм/пиксель. Контур аналитической линии описывается
несколькими пикселями.
Очевидные преимущества:
Один источник света для определения всех элементов;
Отсутствие необходимости применять дополнительные устройства для коррекции фона;
Возможность одновременной регистрации аналитического сигнала атомного поглощения и фона;
Использование 3D графики (Абсорбция – Длина волны – Время) позволяет получать информацию о природе фона и развитии фоновой помехи во времени;
Отсутствие потери чувствительности измерений при коррекции фона;
Расширение динамического диапазона градуировочной характеристики;
Улучшенные пределы обнаружения некоторых элементов;
Высокое разрешение: Rсп=λ/Δλ = 145 000, 2 пм на пиксель при длине волны 200 нм, как следствие - высокая селективность.
